X线头影测量的主要应用有 选项: A:可研究颅面生长发育 B:可对牙、颌、颅面畸形作诊断分析 C:可确定错(牙合)畸形的矫治设计 D:正畸外科联合治疗的诊断和矫治设计 生长发育 可确定 矫治 发布时间:2024-06-16 22:29:24