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- 1.用一阶系统作测试装置，为了获得最佳的工作性能，其时间常数τ( ) 选项： A: 越小越好 B: 越大越好 C: 0.6～0.7之间最好 D: 负值最好 E: 金属导电 F: 半导体 G: 非金属
- 2.用一阶系统作测试装置，为了获得最佳的工作性能，其时间常数τ（ ）选项： A:0.6～0.7之间最好; B:越小越好; C:越大越好; D:负值最好
- 3. 用一阶系统作测试装置，为了获得最佳的工作性能，其时间常数τ（ ）。 选项： A: 越小越好 B: 越大越好 C: 0.6～0.7 之间最好 D: 负值最好
- 4. 用一阶系统作测试装置，为了获得最佳的工作性能，其时间常数τ（ ）。 选项： A: 越小越好 B: 越大越好 C: 0.6～0.7 之间最好 D: 负值最好
- 5.用一阶系统作测试装置,为了获得最佳的工作性能,其时间常数τ( )。 选项： A、越小越好 B、越大越好 C、0.6~0.7之间最好 D、负值最好
- 6.用一阶系统作测试装置，为了获得最佳的工作性能，其时间常数η（） 选项： A、越小越好 B、越大越好 C、0.6～0.7之间最好 D、负值最好
- 7.用二阶系统作测试装置,为使系统响应最快,其固有频率（） 选项： A:越小越好 B:越大越好 C:0.6—0.7之间最好 D:负值最好
- 8. 用一阶系统作测试装置,为了获得最佳的工作性能,其时间常数τ越小越好。
- 9.用一阶系统作测量装置，为了获得较佳的工作性能，其时间常数原则上（ ）。 选项：A、越大越好 B、越小越好 C、应大于信号周期 D、应小于信号周期
- 10.用一阶系统作测量装置，为了获得较佳的工作性能，其时间常数原则上（ ）。 选项： A、越大越好 B、越小越好 C、应大于信号周期 D、应小于信号周期
- 11.用一阶系统作测量装置，为了获得较佳的工作性能，其时间常数原则上（ ）。 选项： A、越大越好 B、越小越好 C、应大于信号周期 D、应小于信号周期
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12.用一阶系统作测量装置，为了获得较佳的工作性能，其时间常数原则上（ ）。 选项：A、越大越好
B、越小越好
C、应大于信号周期
D、应小于信号周期
- 13.一阶传感器，为了获得最佳的工作性能，时间常数T原则上 选项： A: 越小越好 B: 大于信号周期 C: 小于信号周期 D: 越大越好
- 14.一阶测试系统的时间常数越大系统性能越好。（）
- 15.一阶测试系统的时间常数越大系统性能越好。（）
- 16.用一阶系统作测试系统，为了获得较佳的工作性能，其时间常数τ应尽量大。A．正确B．错误
- 17.用一阶系统作测试系统，为了获得较佳的工作性能，其时间常数τ应尽量大。A．正确B．错误
- 18.用一阶系统作为测试系统，为了获得较佳的工作性能，其时间常数τ应（ ）
- 19.用一阶系统做测试系统，为了获得较佳的工作性能，其时间常数τ应尽量大()
- 20.用一阶系统做测试系统，为了获得较佳的工作性能，其时间常数τ应尽量大()
- 21.为了减小一阶系统的惯性，提高系统的响应速度，则时间常数T（ ）。选项： A:等于零; B:越小越好; C:越大越好; D:等于开环增益
- 22.影响一阶测量装置动态特性参数是时间常数，原则上希望它（）。选项： A:越大越好; B:越小越好; C:等于零; D:适中
