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SEM主要被用来分析表征样品的( )
选项:
A:组成
B:表面形貌
C:化学键
D:热性能
表征
样品
形貌
发布时间:
2024-05-18 14:26:33
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1.
AFM通常用来观测样品表面形貌。
2.
AFM是应用较为广泛的一种扫描探针显微镜,其工作原理是基于探针尖端与样品表面的()作用来反应样品表面的微观形貌,克服了实现了对非金属样品表面微观形貌的分析。
3.
背散射电子仅仅反映固体样品表面形貌信息。选项: A:正确; B:错误
4.
用来表征材料的压电性能的有以下性能参数
5.
SEM利用二次电子信号成像来观察样品的表面形态。选项: A:正确; B:错误
6.
电子束与固体样品作用时,会产生二次电子。二次电子的产额主要决定于样品的( )。选项: A:表面面积 B:表面形貌 C:原子序数 D:厚度
7.
粉末的物理性能中属于外观形貌的是( )。 选项: A:粉末的粒度和粒度组成 B:粉末的比表面 C:粉末颗粒的形状 D:粉末的真密度以及粉末的结晶状态
8.
仅仅反映固体样品表面形貌信息的物理信号是( )选项: A:背散射电子; B:吸收电子; C:二次电子信号; D:透射电子
9.
扫描电镜的优点不包括 选项: A:分辨率高 B:放大倍数高 C:可观察样品表面形貌 D:可观察细胞内部结构
10.
进行断口形貌观察最佳的表征方法为( )。选项: A:扫描电镜 B:X射线衍射分析 C:拉曼光谱 D:核磁共振波谱
11.
仅仅反应固体样品表面形貌信息的物理信号的是( )。 选项: A: 背散射电子 B: 二次电子 C: 吸收电子 D: 透射电子
12.
仅反映固体样品表面形貌信息的物理信号是选项: A: 特征X射线 B: 俄歇电子 C: 二次电子 D: 背散射电子
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