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- 1.空白试验是消除由试剂和器皿带进杂质所造成的系统误差
- 2.检验和校正系统误差的方法有（） 对照试验 B.空白试验 C.仪器校正 D. 增加测定次数
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3.下列哪种方法不能消除分析测定中的系统误差( )
A．进行对照试验 B．进行空白试验 C．仪器校正 D．增加平行测定次数
A.进行对照试验
B.进行空白试验
C.仪器校正 选项：A：A.进行对照试验
B.进行空白试验
C.仪器校正 - 4.空白试验是消除由试剂和器皿带进杂质所造成的系统误差。 选项： A:正确 B:错误
- 5.空白试验可消除由试剂和器皿引人的杂质所造成的系统误差。 选项： A:正确 B:错误
- 6.测定环境引入的随机误差，可通过（）来消除。 选项：A．对照分析B．空白试验C．增加平行试验D．校正仪器
- 7. 减小系统误差的方法有（） 选项： A、 对照试验 B、 空白试验 C、 校准仪器 D、 回收试验
- 8.下列方法中,不能用来检验或消除系统误差的是A.空白试验B.对照试验C.校正仪器D.增加平行测定次数
- 9.下列方法可以减小分析测定中偶然误差 选项：A．对照试验 B．空白试验 C．仪器校正 D．增加平行试验次数
- 10.不能校正系统误差的方法是? 进行对照试验|增加平行测定次数|进行空白试验|校正仪器
- 11.空白试验可以消除由试剂和器皿带进杂质所造成的偶然误差。 选项： A:正确 B:错误
- 12.下列除哪项外都是减小系统误差所采用的方法选项： A:空白试验; B:对照试验; C:多次平行测定取平均值; D:回收试验
- 13.校正系统误差的方法有选项： A:进行对照试验; B:进行空白试验; C:增加平行测定次数; D:校正仪器
- 14.下列哪种方法可以减小分析测定中的偶然误差()A.对照试验B.空白试验C.仪器校正D.增加平行试验次数 选项： A、 B、 C、 D、D
- 15.不能校正系统误差的方法是选项： A:进行对照试验; B:进行空白试验; C:增加平行测定次数; D:校正仪器
- 16.不能校正系统误差的方法是选项： A:增加平行测定次数; B:进行空白试验; C:进行对照试验; D:校正仪器
- 17.在下列方法中可以减少分析中偶然误差的是（ ）。A.增加平行试验的次数 B.进行对照实验 C.进行空白试验 D.进行仪器的校正 选项：A、正确 B、错误
- 18.空白试验主要用于检验或消除由()所造成的系统误差。A.方法误差B.仪器误差C.试剂误差D.操作误差
